下面是南昌新东方网整理的上海电力大学2021考研复试集成电路设计基础考试大纲，供大家参考。

　　上海电力大学2021考研复试集成电路设计基础考试大纲

　　课程名称集成电路设计基础

　　参考书目

　　1. 李伟华，VLSI设计基础(第三版)，北京：电子工业出版社，2013.6。

　　2. 郝跃，微电子概论(第2版)，北京：电子工业出版社，2011.6。

　　复习的总体要求

　　本课程以硅集成电路为基础，要求全面掌握有关集成电路设计的专业基础知识，重点是集成电路设计概论、MOS器件原理与特性、CMOS逻辑部件、MOS集成电路制造工艺基础、集成电路设计与工艺接口及版图设计基础、晶体管规则阵列设计、集成电路版图设计、单元库设计技术、常用微处理器单元、集成电路测试技术与可测试性技术、模拟单元与变换电路。

　　主要复习内容

　　一、集成电路设计概论

　　集成电路发展历程、分类、设计方法、主流制造技术、设计开发主流程、常用术语及概念。

　　二、MOS器件原理与特性

　　MOS场效应晶体管的工作原理、电特性、模型和基本模型参数、MOS器件技术的发展与挑战。

　　三、CMOS逻辑部件

　　CMOS倒相器设计方法、常见CMOS逻辑门的原理与设计方法。

　　四、MOS集成电路制造工艺基础

　　集成电路工艺环境、集成电路基本加工工艺、CMOS基本工艺流程。

　　五、集成电路设计与工艺接口及版图设计基础

　　设计与工艺接口问题及工艺对设计的制约、版图设计中电学设计规则与几何设计规则的基础、工艺检查与监控。

　　六、晶体管规则阵列设计

　　全NMOS结构的ROM电路设计及版图、MOS晶体管开关逻辑电路及应用、PLA电路设计及应用、门阵列电路和版图设计。

　　七、单元库设计技术

　　单元库概念、常见标准单元设计(反相器、输入、输出单元)。

　　八、常用微处理器单元

　　常用微处理器单元的电路图及工作原理。

　　九、集成电路测试技术与可测试性技术

　　集成电路故障模型、测试矢量生成、可测试性技术概念。

　　十、模拟单元与变换电路

　　模拟集成电路基本单元、基本偏置电路、放大电路。

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